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上海华虹宏力申请BCD器件结构及其形成方法专利, 降低了深阱的工艺难度或者生产成本
- 发布日期:2025-05-21 07:07 点击次数:72
金融界2025年5月10日消息,国家知识产权局信息显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“BCD器件结构及其形成方法”的专利,公开号CN119947261A,申请日期为2025年1月。
专利摘要显示,本发明提供一种BCD器件结构及其形成方法,BCD器件结构中的衬底上形成有第一外延层和第二外延层,在第一外延层内形成第一隔离埋层,第一隔离埋层中的磷扩散开能增加N型区域的耗尽面积,N型区域和P型区域两侧均参与耗尽,第一隔离埋层与衬底之间形成缓变结,提高了第一隔离埋层与衬底之间击穿电压。第一外延层内形成第二隔离埋层,第二隔离埋层位于第一隔离埋层内,第二外延层内形成有深阱,在形成深阱时,第一隔离埋层扩散至第二外延层内,深阱通过第一隔离埋层与第二隔离埋层电连接构成隔离结构,由于在形成深阱时,第一隔离埋层扩散至第二外延层内,增强了深阱与第二隔离埋层之间的衔接,降低了深阱的工艺难度或者生产成本。
天眼查资料显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司,成立于2013年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2046092.7759万人民币。通过天眼查大数据分析,上海华虹宏力半导体制造有限公司共对外投资了7家企业,参与招投标项目856次,财产线索方面有商标信息39条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可429个。
本文源自:金融界
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